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半導(dǎo)體生產(chǎn)是知識(shí)密集型，技術(shù)密集型和勞動(dòng)密集型行業(yè)，對(duì)工作環(huán)境，生產(chǎn)設(shè)備和操作人員有很高的要求。半導(dǎo)體加工過(guò)程主要分為四個(gè)步驟：晶圓制造和測(cè)試以及芯片封裝和測(cè)試。其中，晶片的制造和檢查通常稱(chēng)為先前的過(guò)程。主要加工過(guò)程包括化學(xué)清洗，平面光刻，離子注入，金屬沉積/氧化，電離/化學(xué)蝕刻等。被檢查的晶片被送到包裝和測(cè)試工廠進(jìn)行后續(xù)處理，主要處理過(guò)程包括貼片，環(huán)氧固化，電性能測(cè)試，激光蝕刻，焊球粘合等。
國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體封裝設(shè)備的區(qū)別在何處？
雖然國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體封裝設(shè)備在設(shè)計(jì)上確實(shí)存在很大的缺陷，但通過(guò)精心設(shè)計(jì)規(guī)范和仔細(xì)的設(shè)計(jì)過(guò)程管理便可以快速而顯著地改善問(wèn)題?？赏ㄟ^(guò)將設(shè)計(jì)仿真工具與物理原型的實(shí)際運(yùn)行數(shù)據(jù)緊密集成來(lái)解決諸如機(jī)械/電氣功能的正確性以及機(jī)械結(jié)構(gòu)的抗振之類(lèi)的問(wèn)題，并最終在物理原型上進(jìn)行驗(yàn)證。
國(guó)際主流制造商的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)嚴(yán)格遵循可行性工程驗(yàn)證設(shè)計(jì)驗(yàn)證試生產(chǎn)驗(yàn)證批量生產(chǎn)驗(yàn)證的過(guò)程。在每個(gè)階段，都會(huì)構(gòu)建大量的原型以進(jìn)行全面測(cè)試，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果和分析對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行修訂。同時(shí)，它與用戶(hù)緊密集成在一起，將設(shè)備在線資格測(cè)試嵌入到完整的產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程中。在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的每個(gè)階段建造的原型總數(shù)多大幾十，幾乎等于國(guó)內(nèi)設(shè)備公司的成熟產(chǎn)品的年產(chǎn)量。這種驚人的差異是導(dǎo)致國(guó)內(nèi)封裝設(shè)備與國(guó)際主流產(chǎn)品之間可靠性出現(xiàn)巨大差異的根本原因。
國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體封裝應(yīng)如何發(fā)展？
需要準(zhǔn)確有效的故障捕獲和問(wèn)題識(shí)別/分析方法，以確?？焖伲_地找到原型測(cè)試中揭示的問(wèn)題并找到原因。**，有必要建立一個(gè)可控且有序的系統(tǒng)，以根據(jù)測(cè)試結(jié)果和分析對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行修改，并不斷循環(huán)運(yùn)行該機(jī)制，以確保在不引入新問(wèn)題的情況下完全解決發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題。
X-ray半導(dǎo)體設(shè)備的優(yōu)勢(shì)如何？
X-RAY半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備具備良好的半導(dǎo)體檢測(cè)能力，能夠有效的穿透半導(dǎo)體內(nèi)部結(jié)構(gòu)，助力半導(dǎo)體封裝設(shè)備能夠準(zhǔn)確高效的故障捕獲，迅速發(fā)現(xiàn)測(cè)試樣品顯示的問(wèn)題并找到原因，這是X-RAY半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備不可替換的一種優(yōu)勢(shì)！因此，日聯(lián)科技加大微聚焦X-ray設(shè)備的研發(fā)投入，推出適用于半導(dǎo)體行業(yè)的高端智能檢測(cè)裝備，如在線式的LX2000，離線式的AX9100以及全新升級(jí)的AX8200MAX等設(shè)備，相信成熟的檢測(cè)設(shè)備對(duì)于半導(dǎo)體封裝的進(jìn)一步發(fā)展也提供了有力的助力。
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